サンプル構成
繰り返し計測を伴う FRF インパクトハンマ解析（PCB）
任意の段取りと、無限ループでの量産試験を備えた全体シーケンス。
概要
FRF インパクトハンマ解析の PCB ハードウェア版で、試験の流れは同一です：段取りモード、3 回の打撃を平均する量産試験、ピーク検出と損失係数を伴う FRF 評価。さらに本構成には、1 kHz における RMS レベルと周波数位置を校正器と照合する計測マイクの校正シーケンスと、製品管理の例として複数カテゴリに 50 件以上を収録した製品リストが含まれます。
処理の流れ
ワークフローの詳細
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Main
任意の段取りと、無限ループでの量産試験を備えた全体シーケンス。
開始 →「段取り」の場合：段取り呼び出し → 無限ループ（開始確認 → 計測呼び出し → 保存）→ 終了。
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01 計測 FRF 3x
平均化と減衰待ち時間を伴う 3 回の FRF 計測。
開始 → ループ「FRF 平均化」（加振 → 力センサーの信号トリガー → 力センサーの計測 → マイクの計測 → FRF 解析 → 減衰待ち時間）→ 終了。
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90 校正 MIC1
1 kHz 基準に対するマイク校正。
開始 → トリガー → MIC1 の計測 → 解析（RMS 値 → FFT → 1 kHz での周波数位置）→ 保存 → 終了。
ソフトウェア画面
ダウンロード
SonicTC DbManager からインポート — 単独で、または既存のデータベースへ統合して。
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