サンプル構成
繰り返し計測を伴う SISO FRF 解析
繰り返し計測を伴う計測シーケンス。
概要
3 自由度のシミュレーションシステムにおける SISO 計測の繰り返しによる FRF 解析です。モーダルループ内で合成インパルスとインパルス応答を信号発生器で生成し、解析します。特性値計算は指数窓を用いない FRF スペクトル（モーダル減衰解析に適します）を求め、インパルス応答関数を計算し、共振ピークを検出します。特徴は、Q 値を手法比較のために 5 通りの方法で並行して求める点です — Ewins 法、有理分数多項式法（RFP）、x-dB 法、v-dB 法、円適合法。
処理の流れ
ワークフローの詳細
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SISO Measurement
繰り返し計測を伴う計測シーケンス。
開始 → モーダルループ（信号発生器インパルス → 信号発生器インパルス応答 → SISO FRF 解析）→ 終了。エラーフローあり。
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SISO FRF
減衰算出の 5 手法比較を含む特性値ブロック。
特性値開始 → FRF スペクトル → インパルス応答関数（IRF）→ ピーク検出 → Ewins 法による Q 値 → RFP → x-dB → v-dB → 円適合 → 特性値終了。
ソフトウェア画面
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