平台主题
数据存储与数据管理
每个零件都有自己的履历。
关于什么？
让检测数据转化为洞察。
无间断的数据采集带来透明度——从而支撑更优决策。SonicTC 直接在检测软件中提供统计过程控制（Cp、Cpk）、帕累托、缺陷和相关性分析的基础。
中央数据平台将研发、生产与各厂区互联。产线末端（EOL）的洞察反哺设计——反之亦然。
优势
您将获得什么。
SonicTC 历史记录是检测对象与测量数据的中央管理平台。它联通各设备，进行防篡改存储，并为统计、分析和报表提供数据。
中央历史记录
检测对象、结果和元数据以防篡改方式存入现代 SQL 数据库。
审计追踪与合规
完整的变更历史——满足 FDA 21 CFR Part 11、IEC 62304、ISO 13485 的审计追踪要求。
基于角色的访问
操作工、调机员、技术员、QM、管理员——各取所需。支持 Active Directory。
标识与备份
通过条码、DMC 或序列号自动识别。可追溯数十年。自动备份。
系统中的呈现
它看起来是这样。
过程能力，直接源自检测软件。
Cm/Cmk、Pp/Ppk 与 Cp/Cpk 直接来自实时检测数据——无需导出到第二套系统。
Cpk 大于 1.33 即视为过程有能力。评估结果在一张图中呈现位置、离散度与规格限，并可通过筛选直达相关检测对象。
深入了解
统计与质量管理，随检测同步运行。
测量系统分析（MSA）
Cg、Cgk 与 Gage R&R 首先检验测量系统——量具不合格，任何过程控制都无从谈起。
过程能力
Cm/Cmk 针对设备，Pp/Ppk 针对试生产，Cp/Cpk 针对量产过程——每项指标均附判读说明。
数据分布
直方图、箱线图与 Q-Q 图可以判断正态分布假设是否成立。
控制图
X-MR 图区分单值与移动极差——过程位置与过程离散度分别评价。
帕累托分析
约 80% 的缺陷源自 20% 的原因。筛选逻辑可从柱形直达相关检测对象。
缺陷分析
Laney p′ 图修正过离散与欠离散，避免大样本量下的误报警。
相关性分析
皮尔逊系数介于 −1 与 +1 之间，揭示特征之间的关联——但相关性明确不等于因果性。