完全な FRF 計測セル：モーダル試験、減衰、共振解析
複数の幾何点でのインパクトハンマによる完全なモーダル試験。
最も大規模な構成で、実験モーダル解析と減衰解析の複数の方式を 3 つのステーションにまとめています。インパルス加振時に力センサー、マイク、加速度の信号を計測し（Maul-Theet インパクトハンマ、または自動 NV-Tech モーダルハンマ（SAM）を選択可能）、その間ステッピングモーターが試験体を複数の計測位置へ回転させます。IVS-500 レーザー振動計がセンサー構成を補完します。減衰は複数手法（ICF、Ewins、x-dB、RFP）で直接比較して求め、第 1 次モードのコヒーレンス評価も含みます。さらに、完全シミュレーションの SISO FRF ステーションと、SNR/SINAD 監視を伴うアラーム処理ステーションを収録しています。
ワークフローの詳細
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Modal Test (Maul-Theet)
複数の幾何点でのインパクトハンマによる完全なモーダル試験。
開始 → 初期化 → 準備完了／LED 点灯 → 開始トリガー → 幾何ループ（モーダルループ：インパルス → 力センサーの信号トリガー → 力・マイク・加速度の計測 → MIC および ACC のモーダル解析。その後モーター 1 ステップ）→ モーターゼロ位置 → 終了。
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Modal Test (NV-Tech)
自動モーダルハンマ（SAM）による同一試験。ゼロ位置の段取りを含みます。
開始 → 初期化 → ゼロ位置の設定 → 開始トリガー → 幾何ループ（SAM ハンマトリガー → 各計測 → モーダル解析。モーター 1 ステップ）→ モーターゼロ位置 → 終了。
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減衰計測（Maul-Theet）
平均化と減衰待ち時間を伴う 3 回の繰り返し計測。
開始 → 準備完了 → 開始トリガー → ループ「繰り返し計測 3 回」（インパルス → 各計測 → 各解析 → 減衰待ち時間）→ 終了。
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減衰解析 FRF
複数手法の比較を含む特性値ブロック。
特性値開始 → FRF → 第 1 次モードのコヒーレンス → ピーク検出 → ICF、Ewins、x-dB、RFP による Q 値 → 特性値終了。
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その他のワークフロー
マイク／加速度センサーによる減衰計測、回転位置決めを伴う共振解析、モーター校正、シミュレーションによる SISO FRF 連鎖、センサー品質監視（SNR/SINAD）を伴うアラーム処理。
構成は上記の計測ワークフローおよび特性値ワークフローと同様です。
ソフトウェア画面
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